이름: | CdWO4 신틸레이션 검출기 | 광 산출량 (Photon/MeV): | 13000 |
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시간 (s)를 부패시키세요: | 12-15 | 피크 방사 (nm): | 480 |
하이 라이트: | bgo 창연 germanate,lutetium 이트륨 oxyorthosilicate |
제품 상세정보
충분히 HIGH 표시등 수익률과 함께 그것의 낮은 본질적 배경과 저녁 노을 때문의, 텅스텐산 카드뮴 CdWO4 (CWO)는 분광계를 위한 가장 유망한 것 극단적으로 낮은 활동 아래, 그리고 또한 컴퓨터 단층 촬영을 위한 전파 핵종의 방사측정입니다.
그것이 전리 방사선의 검출기로서 그것을 유용하게 하면서, γ선과 엑스레이로 타격을 받을 때 크리스탈은 투명하고 빛을 방출합니다. 그것의 최대 섬광 파장은 480 nm (380-660 nm 사이의 방사 범위로)과 13000 photons/MeV의 효율입니다. 그것은 상대적으로 높은 광 산출량을 가지고 있습니다, 그것의 출광이 NaI(Tl)의 약 40%이지만, 그러나 섬광의 시간이 사실상 깁니다 (1215 S). 그것은 종종 컴퓨터 단층 촬영에서 사용됩니다. 신틸레이터 결정을 보론 카바이드의 외부적으로 응용된 부분과 결합하는 것 γ선과 중성자의 소형 탐지 장치의 구조를 허락합니다.
상술
섬광 특성 | |
재료 |
CdWO4 |
광 산출량 (Photon/MeV) |
13000 |
시간 (s)를 부패시키세요 |
12-15 |
피크 방사 (nm) |
480 |
잔상 |
0.1%@6ms |
비중 (g/cm3) |
7.9 |
흡습성 |
부정 |
광학 등급을 위한 마멸 상술 |
|||
스탠더드프레시젼 |
고 정밀도 |
최고 정확성 |
|
배향 허용도 |
< 1' |
< 0.5' |
< 0.2' |
두께 / 직경 공차 |
±0.10 밀리미터 |
±0.05 밀리미터 |
±0.02 밀리미터 |
서피스 Flatness@633nm |
<-2 |
</2-/4 |
/4-/6 |
파면왜 |
<(2-4) |
<(1-2) |
<(-/2) |
표면 품질 |
60/40 |
40/20 |
20/10 |
대비 |
45 |
1 |
10 |
수직 |
60 |
30 |
20 |
개방 간극 |
>90% |
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챔엠에프러 |
<0.2mm×45' |
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코팅 |
요청하는 대로 에바일러블 |